有源晶振的測(cè)試匹配是一個(gè)重要的過(guò)程，主要依賴于其電路設(shè)計(jì)，以確保晶振能夠正常工作。在測(cè)試匹配過(guò)程中，需要考慮到負(fù)載電容和接地。負(fù)載電容是指電路中跨接晶體兩端的總的外界有效電容，是晶振要正常震蕩所需要的電容。接地是指將晶體旁邊的兩個(gè)電容接地，實(shí)際上就是電容三點(diǎn)式電路的分壓電容，接地點(diǎn)就是分壓點(diǎn)。以接地點(diǎn)即分壓點(diǎn)為參考點(diǎn)，振蕩引腳的輸入和輸出是反相的，但從并聯(lián)諧振回路即石英晶體兩端來(lái)看，形成一個(gè)正反饋以保證電路持續(xù)振蕩。通過(guò)以下一些常見(jiàn)的測(cè)試步驟，可以測(cè)試并匹配有源晶振。

  1. 確定測(cè)試頻率范圍：根據(jù)有源晶振的頻率和精度要求，確定測(cè)試頻率范圍。

  2. 選擇合適的測(cè)試設(shè)備：選擇具有所需頻率范圍和精度的測(cè)試設(shè)備，例如示波器、信號(hào)發(fā)生器、頻率計(jì)數(shù)器等。

  3. 連接測(cè)試設(shè)備：將測(cè)試設(shè)備連接到有源晶振的輸出端口，確保連接穩(wěn)定且具有良好的電氣接觸。

  4. 調(diào)整測(cè)試設(shè)備參數(shù)：根據(jù)有源晶振的技術(shù)規(guī)格書(shū)，調(diào)整測(cè)試設(shè)備的參數(shù)，例如幅度、偏置、觸發(fā)等。

  5. 進(jìn)行測(cè)試：在設(shè)定的參數(shù)下，運(yùn)行測(cè)試設(shè)備并觀察輸出波形。確保輸出波形符合預(yù)期，并且在所需的頻率范圍內(nèi)穩(wěn)定。

  6. 分析測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試結(jié)果，對(duì)有源晶振進(jìn)行調(diào)整或更換。如果輸出波形不符合預(yù)期，可以嘗試調(diào)整電路參數(shù)、更換不同的有源晶振或?qū)で笃渌赡艿慕鉀Q方案。

  7.測(cè)量電阻法: 使用萬(wàn)用表 RX10k 檔測(cè)量有源晶振的正、反向電阻值，正常時(shí)均應(yīng)為(無(wú)窮大)。若測(cè)得石英晶體振蕩器有一定的陽(yáng)值或?yàn)?，則說(shuō)明該有源晶振已漏電或擊穿損壞。

  8.頻率計(jì)數(shù)器檢測(cè)法:在設(shè)備電源“打開(kāi)”時(shí)進(jìn)行測(cè)量。將儀表或頻率計(jì)數(shù)器的探頭放在晶振引腳上并讀取測(cè)量值。確保使用的頻率計(jì)數(shù)器表的范圍高于正在檢查的晶振頻率。如果晶振為 8mhz，那么使用的儀表應(yīng)該具有能夠檢查該頻率的范圍。普通的數(shù)字萬(wàn)用表通常具有較小的檢查頻率范圍。

  9.示波器檢測(cè)法:晶振在激發(fā)時(shí)會(huì)產(chǎn)生正弦波，如果在時(shí)鐘引腳上查看代表正弦波的波形是合適的。如果時(shí)鐘不能正常工作，請(qǐng)更換晶振。當(dāng)顯示器進(jìn)來(lái)時(shí)沒(méi)有高壓癥狀，用示波器檢查晶體發(fā)現(xiàn)波形非常不穩(wěn)定，更換微處理器解決了無(wú)高壓?jiǎn)栴}，晶振波形顯示完美的正弦波。

  由于每種有源晶振的電路設(shè)計(jì)和應(yīng)用場(chǎng)景都可能有所不同，因此在進(jìn)行匹配測(cè)試時(shí)，可能需要根據(jù)具體情況進(jìn)行適當(dāng)?shù)恼{(diào)整和優(yōu)化。如有需要，建議咨詢TROQ的FAE工程師相以獲取更詳細(xì)的指導(dǎo)。